众所周知,组件PID产生的机理是由于玻璃中的金属离子迁移到电池片表面,使得电池表面的钝化效果恶化,最终导致组件功率衰减。从组件厂测试数据来看,电池片的折射率提高到2.12以上后,基本可以解决组件的PID问题,但带来的是电池片转换效率的下降,会影响到组件的利润。而封装材料EVA会直接影响到组件的漏电流,漏电流越小则组件抗PID的性能越佳,也即是使用体电阻高的EVA的组件抗PID性能会更好。
据鹿山介绍,此次推出的EVA胶膜体积电阻率稳定的达到5*1015Ω.cm左右,该产品的绝缘性能有了突破性的提高。在PID测试中,采用85℃、85%RH、-1000V,96h的条件,并且使用的电池片折射率仅为2.08,而使用鹿山二代胶膜的组件功率仅衰减0.97%。另外据悉,鹿山的新型封装胶膜Ecosunary也参与此次测试,而功率衰减仅为0.3%。
图1 使用不同封装材料的组件PID测试
0 条